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ASTM E1813-96(2002)
Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy
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扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
1996-06-10
CCS分类：
ICS分类：
19.100无损检测
现行
ASTM E2382-04(2020)
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
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扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
2020-12-01
CCS分类：
ICS分类：
17.040.20表面特征
历史
ASTM E1813-96e1
Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy
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扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
1996-06-10
CCS分类：
ICS分类：
历史
ASTM E2382-04(2012)
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
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扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
2012-11-01
CCS分类：
ICS分类：
17.040.20表面特征
作废
ASTM E1813-96(2007)
Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy (Withdrawn 2016)
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扫描探头显微镜测量和报告探针尖端形状的标准实践（撤回2016）
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
2007-06-01
CCS分类：
ICS分类：
19.100无损检测
作废
ASTM E2530-06
Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)
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使用Si（111）单原理步骤校准原子力显微镜的Z-放大倍率的标准实践（放弃2015年）
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
2006-11-01
CCS分类：
ICS分类：
19.020试验条件和规程综合
历史
ASTM E2382-04
Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
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扫描隧道显微术和原子力显微术中扫描器和尖端相关工件指南
发布单位或类别：
美国材料与试验协会
发布日期：
2004-08-01
CCS分类：
ICS分类：
17.040.20表面特征
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
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