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现行 IEEE/IEC 62527-2007
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IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450.2(TM)-2002): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification IEC 62527第1版(IEEE Std 1450.2(TM)-2002):直流电平规范的标准测试接口语言(STIL)扩展标准
发布日期: 2007-12-09
新的IEEE标准-激活。 本标准扩展了IEEE Std 1450-1999(STIL),以支持直流电平的定义。定义STIL语言结构是为了指定在自动测试设备(ATE)上执行数字向量所需的DC条件。STIL语言扩展包括以下结构:(a)指定被测设备的DC条件;(b) 通过模式突发、模式或向量全局指定DC条件;(c) 指定备用直流电平;(d)在一段时间内选择直流电平和备用电平,与定时格式事件非常相似。
New IEEE Standard - Active. This standard extends IEEE Std 1450-1999 (STIL) to support the definition of DC levels. STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to execute digital vectors on automated test equipment (ATE). STIL language extensions include structures for: (a) specifying the DC conditions for a device under test; (b) specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector; (c) specifying alternate DC levels; and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
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