SJ/T 11706-2018-半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法-国家数字标准馆

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半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array

发布日期： 2018-02-09

实施日期： 2018-04-01

本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA) 的电参数测试方法

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所

起草人：刘芳、尹航、胡海涛

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