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现行
GB/T 26113-2010(英文版)
Micro electromechanical system technology—General rules for the assessment of microgeometrical parameters
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发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
现行
T/CIE 117-2021
MEMS器件机械冲击试验方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2021-11-22
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/JSSIA 0001-2024
光敏介质薄膜与互连金属界面结合力的评价方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2024-06-05
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CIE 120-2021
半导体集成电路硬件木马检测方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2021-11-22
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/JSSIA 0002-2017
倒装芯片球栅阵列封装（FCBGA）外形尺寸
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2017-09-29
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
被代替
GB/T 14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1992-12-18
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1992-12-17
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CAMS 186-2024
二维材料光电探测器性能参数测试方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2024-03-07
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 34900-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
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Micro-electromechanical system technology—Measuring method for residual strain measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2017-11-01
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
作废
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
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The rule of type designation for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1989-03-31
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
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