MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, NINE-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-92201)
微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅（取代DESC 5962-92201）

2003-04-17

MICROCIRCUITS, DIGITAL, TTL, PARITY GENERATORS/CHECKERS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING MIL-M-38510/19)
单片硅数字、TTL奇偶校验发生器/校验器微电路（取代MIL-M-38510/19）

2005-06-07

MICROCIRCUITS, DIGITAL, BIPOLAR, 12 INPUT PARITY CHECKER/GENERATOR, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-86726A)
单片硅数字双极12输入奇偶校验/发生器微电路（取代DESC 5962-86726A）

2005-01-27

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, TTL COMPTIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96720)
微电路、数字、抗辐射高级CMOS、9位奇偶校验发生器、TTL兼容输入、单片硅（取代DESC 5962-96720）

2000-07-03

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96583)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅（取代DESC 5962-96583）

2006-03-20

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/校验器 TTL兼容输入 单片硅（由DSCC 5962-96583B提供的S/S）

1996-11-18

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅（由DSCC 5962-96583B提供）

1996-05-20

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, RADIATION HARDENED, 9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/ CHECKER WITH NON-INVERTING THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE INPUTS AND OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DSCC 06240)
微电路、数字、高级CMOS、抗辐射、9位可锁存收发器 带奇偶校验发生器/检测器 具有非反相三态输出、TTL兼容输入和输出、单片硅（取代DSCC 06240）

2007-04-17