现行

MIL MIL-M-38510/349B Notice 1-Validation

Microcircuits, Digital, Bipolar Advanced Schottky TTL, Parity Checker, Monolithic Silicon
微型电路 数字 双极高级肖特基TTL 奇偶校验 单片硅

2009-02-26

现行

MIL MIL-M-38510/349B Notice 3-Validation 3

Microcircuits, Digital, Bipolar Advanced Schottky TTL, Parity Checker, Monolithic Silicon
微型电路 数字 双极高级肖特基TTL 奇偶校验 单片硅

2018-09-20

现行

MIL MIL-M-38510/349B Notice 2-Validation

Microcircuits, Digital, Bipolar Advanced Schottky TTL, Parity Checker, Monolithic Silicon
微电路 数字 双极高级肖特基TTL 奇偶校验 单片硅

2013-12-06

现行

MIL DESC 5962-90798

MICROCIRCUITS, DIGITAL, FAST, CMOS, DUAL ODD-PARITY GENERATOR/CHECKERS, TTL COMPATIBLE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 快速 CMOS 双奇偶校验发生器/校验器 TTL兼容 单片硅

1992-04-21

现行

MIL DESC 5962-96599 Notice B-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅

1997-07-24

现行

MIL DESC 5962-96599 Notice A-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅

1997-03-14

现行

MIL DESC 5962-96599

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅

1995-12-13

现行

MIL MIL-M-38510/349B

MICROCIRCUITS, DIGITAL, BIPOLAR ADVANCED SCHOTTKY TTL, PARITY CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING MIL-M-38510/349A)
微电路 数字 双极性先进肖特基TTL 奇偶校验 单片硅（取代MIL-M-38510/349A）

2004-05-12

现行

MIL DESC 5962-87562A Notice B-Revision

MICROCIRCUITS, DIGITAL, ECL, 12 BIT PARITY GENERATOR CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87562)
MICROCIRCUITS 数字 ECL 12位发光二极管检查器 单晶硅（取代DESC 5962-87562）

1991-12-05

现行

MIL DSCC 5962-87543B

MICROCIRCUIT, DIGITAL, CIPOLAR, NINE-INPUT PARITY CHECKER/GENERATOR, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87543A)
单片硅九输入奇偶校验器/发生器数字环形微电路（取代DESC 5962-87543A）

2001-10-04

现行

MIL DESC 5962-87562A

MICROCIRCUITS, DIGITAL, ECL, 12 BIT PARITY GENERATOR CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87562)
单片硅12位奇偶校验发生器检测器ECL数字微电路（取代DESC 5962-87562）

1989-03-30

现行

MIL DSCC 5962-86726B

MICROCIRCUITS, DIGITAL, BIPOLAR, 12 INPUT PARITY CHECKER/GENERATOR, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-86726A)
单片硅数字双极12输入奇偶校验/发生器微电路（取代DESC 5962-86726A）

2005-01-27

现行

MIL DSCC 5962-92201A

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, NINE-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-92201)
微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅（取代DESC 5962-92201）

2003-04-17

现行

MIL DESC 5962-90593

MICROCIRCUIT, DIGITAL, BIPOLAR, ADVANCED SHCOTTKY, TTL, SERIAL DATA POLYNOMINAL GENERATOR/CHECKER MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 双极 先进的SHCOTTKY TTL 串行数据多项式发生器/检测器单片硅

1992-02-06

现行

MIL DESC 5962-92197

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCECD CMOS, OCTAL BIDIRECTIONAL TRANSCEIVER WITH 8-BIT PARITY GENERATOR/ CHECKER, THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE
微电路 数字 ADVANCECD CMOS 八进制双向收发器 带8位奇偶校验发生器/检测器 三态输出 TTL兼容

1993-04-20

现行

MIL DSCC 5962-96720C

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, TTL COMPTIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96720)
微电路、数字、抗辐射高级CMOS、9位奇偶校验发生器、TTL兼容输入、单片硅（取代DESC 5962-96720）

2000-07-03

现行

MIL DSCC 5962-96583B

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96583)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅（取代DESC 5962-96583）

2006-03-20

现行

MIL MIL-M-38510/19 Notice 1-Inactivation

MICROCIRCUIT, DIGITAL TTL, PARTY GENERATORS/CHECKERS, MONOLITHIC SILICON (S/S BY MIL-M-38510/19A)
微电路 数字TTL 聚会发生器/检验器 单片硅（S/S BY MIL-M-38510/19A）

1995-09-07

现行

MIL MIL-M-38510/19 Amendment 3

MICROCIRCUIT, DIGITAL TTL, PARTY GENERATORS/CHECKERS, MONOLITHIC SILICON (S/S BY MIL-M-38510/19A)
微电路 数字TTL 聚会发生器/检验器 单片硅（S/S BY MIL-M-38510/19A）

1978-05-31

现行

MIL MIL-M-38510/19 Notice 2-Validation

MICROCIRCUIT, DIGITAL TTL, PARTY GENERATORS/CHECKERS, MONOLITHIC SILICON (S/S BY MIL-M-38510/19A)
微电路 数字TTL 聚会发生器/检验器 单片硅（S/S BY MIL-M-38510/19A）

2001-03-03