现行

MIL DESC 5962-87562A

MICROCIRCUITS, DIGITAL, ECL, 12 BIT PARITY GENERATOR CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87562)
单片硅12位奇偶校验发生器检测器ECL数字微电路（取代DESC 5962-87562）

1989-03-30

现行

MIL DESC 5962-96599 Notice B-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅

1997-07-24

现行

MIL DESC 5962-96599 Notice A-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅

1997-03-14

现行

MIL DESC 5962-96599

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅

1995-12-13

现行

MIL DSCC 5962-86726B

MICROCIRCUITS, DIGITAL, BIPOLAR, 12 INPUT PARITY CHECKER/GENERATOR, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-86726A)
单片硅数字双极12输入奇偶校验/发生器微电路（取代DESC 5962-86726A）

2005-01-27

现行

MIL DSCC 5962-92201A

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, NINE-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-92201)
微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅（取代DESC 5962-92201）

2003-04-17

现行

MIL MIL-M-38510/19A

MICROCIRCUITS, DIGITAL, TTL, PARITY GENERATORS/CHECKERS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING MIL-M-38510/19)
单片硅数字、TTL奇偶校验发生器/校验器微电路（取代MIL-M-38510/19）

2005-06-07

现行

MIL DESC 5962-90798

MICROCIRCUITS, DIGITAL, FAST, CMOS, DUAL ODD-PARITY GENERATOR/CHECKERS, TTL COMPATIBLE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 快速 CMOS 双奇偶校验发生器/校验器 TTL兼容 单片硅

1992-04-21

现行

MIL DSCC 5962-87543B

MICROCIRCUIT, DIGITAL, CIPOLAR, NINE-INPUT PARITY CHECKER/GENERATOR, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87543A)
单片硅九输入奇偶校验器/发生器数字环形微电路（取代DESC 5962-87543A）

2001-10-04

现行

MIL DSCC 5962-96708C

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96708)
微电路 数字 抗辐射先进CMOS 9位奇偶校验发生器检测器 单片硅（取代DESC 5962-96708）

2000-06-14

现行

MIL DSCC 5962-96582B

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96582)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅（取代DESC 5962-96582）

2006-03-20

现行

MIL DESC 5962-96582 Notice A-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96582B)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 9位奇数/偶数奇偶校验发生器/检验器 单片硅（由DSCC 5962-96582B提供的S/S）

1996-11-18

现行

MIL DESC 5962-96582

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96582B)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅（S/S由DSCC 5962-96582B提供）

1996-05-20

现行

MIL DESC 5962-92197

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCECD CMOS, OCTAL BIDIRECTIONAL TRANSCEIVER WITH 8-BIT PARITY GENERATOR/ CHECKER, THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE
微电路 数字 ADVANCECD CMOS 八进制双向收发器 带8位奇偶校验发生器/检测器 三态输出 TTL兼容

1993-04-20

现行

MIL DSCC 5962-96720C

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, TTL COMPTIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96720)
微电路、数字、抗辐射高级CMOS、9位奇偶校验发生器、TTL兼容输入、单片硅（取代DESC 5962-96720）

2000-07-03

现行

MIL DSCC 5962-96583B

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96583)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅（取代DESC 5962-96583）

2006-03-20

现行

MIL DSCC 5962-89535C

MICROCIRCUIT, DIGITAL, BIPOLAR, ADVANCED SCHOTTKY, OCTAL BIDIRECTIONAL TRANSCEIVER WITH 8-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER AND THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DSCC 5962-89535B)
微电路、数字、双极、高级肖特基、八进制双向收发器 带8位奇偶校验发生器/检测器和三态输出 单片硅（取代DSCC 5962-89535B）

2002-01-30

现行

MIL DESC 5962-96583 Notice A-Revision

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/校验器 TTL兼容输入 单片硅（由DSCC 5962-96583B提供的S/S）

1996-11-18

现行

MIL DSCC 5962-93141A

MICROCIRCUITS, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/CHECKER, WITH NONINVERTING THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-93141)
微电路、数字、高级CMOS、带奇偶校验发生器/校验器的9位可锁存收发器、带同相三态输出、TTL兼容、单片硅（取代DESC 5962-93141）

2007-02-01

现行

MIL DESC 5962-96583

MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅（由DSCC 5962-96583B提供）

1996-05-20