SJ/T 11699-2018-IP核可测性设计指南-国家数字标准馆

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IP核可测性设计指南 Guidelines for design for testability of IP cores

发布日期： 2018-02-09

实施日期： 2018-04-01

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合

ICS分类： 13.300环保、保健和安全 - 危险品防护

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位：哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心

起草人：王永生、肖立伊、付方发

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