ISO 17470:2004-微束分析.电子探针微量分析.波长色散X射线光谱法定性点分析指南-国家数字标准馆

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Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry 微束分析.电子探针微量分析.波长色散X射线光谱法定性点分析指南

发布日期： 2004-09-13

ISO 17470:2004通过在电子探针微分析仪或扫描电子显微镜上分析使用波长色散X射线光谱仪获得的X射线光谱，为鉴定元素和调查样本中特定体积内特定元素的存在提供了指南。

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.99分析化学 - 有关分析化学的其他标准

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 202/SC 2

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