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AIIM TR34-1996
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Sampling Procedures for Inspection by Attributes of Images in Electronic Image Management (EIM) & Micrographics Systems
电子图像管理(EIM)和缩微摄影系统中图像属性检验的抽样程序
本技术报告包含的程序可用于对电子或缩微图像进行采样,以确定一批或一批图像是否符合规定的质量要求。其目的是为选择取样程序提供指导。
This Technical Report contains procedures that may be used to sample electronic or micrographic images to determine if a lot or batch of images meets specified quality requirements. Its purpose is to provide guidance in selecting a sampling procedure.
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间: 每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址: 北京市海淀区知春路4号
乘车线路: 乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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