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现行 KS C ISO 21363-2023
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나노기술 — 투과 전자현미경을 사용한 입자 크기와 모양 분포의 측정 纳米技术——用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
发布日期: 2023-08-25
该标准规定了如何捕获、测量和分析透射电子显微镜图像,以获得纳米大小的粒子大小和形状分布。该标准不仅适用于尺寸在100nm以上的粒子,还可广泛应用于纳米物体。该方法的准确适用范围取决于所需的不确定度和透射电子显微镜的性能。这些因素可以根据该标准中描述的要求进行评估。
이 표준은 나노크기의 입자 크기와 모양 분포를 얻기 위해 투과 전자현미경 이미지를 캡처, 측정 및 분석하는 방법을 규정한다. 이 표준은 크기가 100 nm 이상인 입자뿐만 아니라 나노물체에도 광범위하게 적용할 수 있다. 이 방법의 정확한 적용범위는 필요한 불확도와 투과 전자현미경의 성능에 따라 다르다. 이들 요소는 이 표준에 기술된 요구사항에 따라 평가될 수 있다.
分类信息
发布单位或类别: 韩国-韩国标准
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研制信息
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