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나노기술 — 주사 전자현미경을 사용한 입자 크기 및 모양 분포 측정
纳米技术——用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
该标准规定了如何通过获取和评价扫描电子显微镜图像、获取和报告准确的结果来决定纳米粒子的大小和形状分布。该标准适用于尺寸限制较低的粒子,这些粒子必须首先根据该标准中描述的要求进行验证,并根据SEM的适当性能而变化。该标准也适用于基于SEM的颗粒尺寸和形状测量,颗粒尺寸大于纳米水平。
이 표준은 주사 전자현미경 이미지를 획득하고 평가하며, 정확한 결과를 얻고 보고함으로써, 나노입자 크기와 모양 분포를 결정하는 방법을 규정한다. 이 표준은 이 표준에 기술된 요구사항에 따라 먼저 입증되어야 하는 필수 불확도와 SEM의 적절한 성능에 따라 달라지는 크기 제한이 더 낮은 입자에 적용된다. 이 표준은 나노수준보다 큰 입자의 SEM-기반 크기 및 모양 측정에도 적용된다.
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
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开放时间: 每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址: 北京市海淀区知春路4号
乘车线路: 乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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