该标准定义了用于4568测量在二维的，以及抛光样品的横截面采用背散射电子衍射（DOE）的多晶材料的平均晶粒尺寸的过程。这需要测量定位，定向力障碍和品质因数衍射在晶体样品的不同点图像[1]。    该标准可在广泛范围的多晶材料中的研究可以应用于

Настоящий стандарт устанавливает процедуры для измерения среднего размера кристаллических зерен в поликристаллических материалах с помощью дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ) на двумерном, хорошо полированном поперечном срезе образца. Для этого необходимы измерения ориентации, разориентации и фактора качества дифракционной картины в различных точках кристаллического образца [1]. Настоящий стандарт может быть применен при исследовании широкого круга поликристаллических материалов