现行

GOST 22988.0-1978

Счетчики газоразрядные. Общие положения методов измерения параметров
气体计数器特征测量方法一般原则

现行

GOST 19834.0-1975

Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
半导体发射器 参数测量方法 一般原则

现行

SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of A/D and D/A converters for integrated circuits

2006-08-07

现行

GB/T 6798-1996

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

1996-07-09

现行

GB/T 14029-1992

半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

GOST 21107.0-1975

Приборы газоразрядные. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
排气装置 电气参数测量方法 一般原则

现行

GOST 19438.0-1980

Лампы электронные маломощные. Методы измерения параметров. Общие положения
低功率电子管 参数测量方法一般原则

现行

ISO 7077-1981

Measuring methods for building — General principles and procedures for the verification of dimensional compliance
建筑物的测量方法——尺寸符合性验证的一般原则和程序

1981-10-01

现行

GB/T 14031-1992

半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

GB/T 14115-1993

半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

1993-01-21

现行

SJ/T 10400-1993

半导体音响电路图示均衡电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods for graphic equalizers of semiconductor audio integrated circuits

1993-09-28

现行

BS ISO 20480-3-2021

Fine bubble technology. General principles for usage and measurement of fine bubbles-Methods for generating fine bubbles
精细气泡技术 细气泡使用和测量的一般原则

2021-10-28

现行

GB/T 14032-1992

半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

ISO 5725-1-2023

Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 1: General principles and definitions
测量方法和结果的准确性（真实性和精密度）.第1部分:一般原理和定义

2023-07-20

现行

KS A ISO 5725-1(2022 Confirm)

측정 방법 및 측정 결과의 정확도(진도 및 정밀도)－제1부：일반적인 원리 및 정의
测量方法和结果的精度（真实性和精度）第1部分:一般原则和定义

2012-12-28

现行

KS A ISO 5725-1(2017 Confirm)

측정 방법 및 측정 결과의 정확도(진도 및 정밀도)－제1부：일반적인 원리 및 정의
精度的测量方法和效果的第1部分（正确度和精确度）:一般原理和定义

2012-12-28

现行

SJ/T 10402-1993

半导体音响电路自动选曲电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods for automatic music selectors of semiconductor audio integrated circuits

1993-09-28

现行

JIS Z 8402-1-1999

Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results -- Part 1: General principles and definitions
测量方法和结果的准确度（真实度和精密度）第1部分:一般原则和定义

1999-01-01

现行

UNE 82009-1-1998

ACCURACY (TRUENESS AND PRECISION) OF MEASUREMENT METHODS AND RESULTS. PART 1: GENERAL PRINCIPLES AND DEFINITIONS.
测量方法和结果的准确度（真实度和精密度） 第1部分:一般原则和定义

1998-09-28