BS PD ES 59008-4-1:2001-半导体芯片的数据要求具体要求和建议测试和质量-国家数字标准馆

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Data requirements for semiconductor die. Specific requirements and recommendations-Test and quality 半导体芯片的数据要求具体要求和建议测试和质量

发布日期： 2001-03-15

规定了描述半导体芯片测试和质量参数所需数据的要求，并给出了一般行业良好实践的建议。结合PD ES 59008-1:2000、PD ES 59008-3:1999阅读交叉参考:ES 59008-1:1999ES 59008-2:1999ES 59008-3:1999ES 59008-6-1:1999ES 59008-6-2IEC 61360:1995

Specifies requirements for the data needed to describe the test and quality parameters of semiconductor die and gives recommendations for general industry good practice. To be read in conjunction with PD ES 59008-1:2000,PD ES 59008-3:1999Cross References:ES 59008-1:1999ES 59008-2:1999ES 59008-3:1999ES 59008-6-1:1999ES 59008-6-2IEC 61360:1995

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发布单位或类别：英国-英国标准学会

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