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现行 JEDEC JEP147
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PROCEDURE FOR MEASURING INPUT CAPACITANCE USING A VECTOR NETWORK ANALYZER (VNA) 使用矢量网络分析仪(VNA)测量输入电容的程序
发布日期: 2003-10-01
本程序描述了使用矢量网络分析仪测量带有SSTL(存根串联端接逻辑)接口引脚的设备引脚电容的推荐方法。本标准程序的一个目的是将冗长且往往不准确的脚注(通常在针寄生菌规范中找到)简化为对本文件的简单引用。在特殊情况下,修改语句可能会根据特定组件的特殊需要调整此程序。
This procedure describes a recommended way to measure pin capacitance of devices with SSTL (Stub Series Terminated Logic) interface pins by use of a Vector Network Analyzer. One purpose of this standard procedure is to reduce the lengthy and often inaccurate footnote - usually found around the specification of pin parasitics - to a simple reference to this document. In special cases modifying statements may adjust this procedure to the special needs of certain component.
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发布单位或类别: 美国-JEDEC固态技术协会
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