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现行 GB/T 43366-2023
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宇航用半导体分立器件通用规范 General specification for discrete semiconductor devices of space application
发布日期: 2023-11-27
实施日期: 2024-03-01
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研制信息
相似标准/计划/法规
现行
QJ 10007-2008
宇航用半导体分立器件通用规范
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2008-02-16
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BS IEC 60747-10-1991
Semiconductor devices-Generic specification for discrete devices and integrated circuits
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2011-07-31
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GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
2006-10-10
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GOST 28623-1990
Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
半导体器件 第10部分分立器件和集成电路的一般规范
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BS CECC 50000-1987
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电子元件质量评定协调体系 总规范:分立半导体器件
1987-10-30
现行
DIN EN 153000
Generic specification: Discrete pressure contact power semiconductor devices (Qualification approval); German version EN 153000:1998
总规范:离散压力接触功率半导体器件(资格认证);德文版EN 153000:1998
1999-01-01
现行
BS EN 153000-1998
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: discrete pressure contact power semiconductor devices (qualification approval)
电子元件质量评定协调体系 总规范:离散压力接触功率半导体器件(资格认证)
1998-07-15