首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ISO 24173:2024
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction 微束分析——使用电子反向散射衍射进行定向测量的指南
发布日期: 2024-02-09
本文档就如何使用电子背散射衍射(EBSD)生成可靠且可重复的晶体取向测量提供了指导。它解决了样品制备、仪器配置、仪器校准和数据采集的要求。

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

分类信息
关联关系
研制信息
归口单位: ISO/TC 202
相似标准/计划/法规