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现行 BS ISO 24173:2009
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Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction 微束分析 电子背散射衍射取向测量指南
发布日期: 2009-10-31
交叉引用:ISO/IEC 17025ISO/IEC指南98-3GUM:1995ASTM E 3ASTM E 1558购买本文件时提供的所有当前修订版均包含在购买本文件中。
Cross References:ISO/IEC 17025ISO/IEC Guide 98-3GUM:1995ASTM E 3ASTM E 1558All current amendments available at time of purchase are included with the purchase of this document.
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发布单位或类别: 英国-英国标准学会
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