ID 카드-시험방법-제3부:접촉식 IC 카드와 관련 인터페이스 장치
识别卡试验方法第3部分:带触点的集成电路卡及相关接口装置
发布日期:
2007-07-09
该规格根据KS X 6507(ISO/IEC7816)中给出的定义,定义接触式IC卡特性和相关接口装置的试验方法。各试验方法参照一个或以上基本标准前后。然后可以将其作为定义KS X 6503(ISO/IEC7810)或一个或多个ID卡应用所使用的信息存储技术的补充标准。
이 규격은 KS X 6507(ISO/IEC 7816)에서 주어진 정의에 따라 접촉식 IC 카드의 특성과 관련 인터페 이스 장치에 대한 시험방법을 정의한다. 각 시험방법은 하나 또는 그 이상의 기본 표준에 전후 참조 된다. 그리고 그것을 KS X 6503(ISO/IEC 7810) 또는 하나 이상의 ID 카드 응용에 이용된 정보 저장 기술을 정의하는 보충적인 표준이 될 수 있다.