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现行 JEDEC JESD311-A(R2009)
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MEASUREMENT OF TRANSISTOR NOISE FIGURE AT MF, HF, AND VHF MF、HF和VHF条件下晶体管噪声系数的测量
发布日期: 1981-11-01
本标准描述了在MF、HF和VHF条件下测量晶体管噪声系数和有效输入噪声温度的试验方法。本标准还增加了“有效输入噪声温度测量”所需的信息。该方法是EIA-311的修订版,包含了之前在EIA-283中发现的材料。以前称为RS-311A和/或EIA-311-A。
This standard describes a test method for measurement of transistor noise figure and effective input noise temperature at MF, HF, and VHF. This standard also adds the necessary information to make 'effective input noise temperature measurements'. This method is a revision of EIA-311 and incorporates material previously found in EIA-283. Formerly known as RS-311A and/or EIA-311-A.
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发布单位或类别: 美国-JEDEC固态技术协会
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