Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管 差分和斜率电阻测量方法

Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
参考二极管 测量稳定电压的方法

Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管 参考齐纳二极管 预热时间的测量方法

Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
参考二极管 测量工作电压温度系数的方法

Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
参考二极管和稳压器 测量工作电压时间漂移的方法

Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
半导体UHF二极管 热电阻和脉冲热阻的测量方法

Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
半导体二极管 总串联等效电阻测量方法

Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
半导体微波开关和限幅二极管 测量损耗电阻的方法

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
光电集成微电路 测量模拟信号换向器输出差分电阻的方法

半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 15:Thermal resistance

2016-01-15

半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 5:Series connection resistance

2015-10-10