现行

KS C IEC 60747-2(2016 Confirm)

반도체 소자－개별 소자 및 집적 회로－제2부：정류 다이오드
半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

2006-12-11

现行

GOST 29209-1991

Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2. Выпрямительные диоды
半导体器件 分立器件和集成电路 第二部分 整流二极管

现行

GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
Semiconductor devices—Discrete devices and integrated circuits— Part 2: Rectifier diodes

2015-12-31

现行

GB/T 15651-1995

半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 5:Optoelectronic devices

1995-07-24

现行

GOST 29283-1992

Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
半导体器件 分立器件和集成电路 光电器件

现行

GB/T 17573-1998

半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General

1998-11-17

现行

BS IEC 60747-10-1991

Semiconductor devices-Generic specification for discrete devices and integrated circuits
半导体器件 分立器件和集成电路总规范

2011-07-31

现行

GB/T 4589.1-2006

半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits

2006-10-10

现行

GOST 28623-1990

Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
半导体器件 第10部分分立器件和集成电路的一般规范

现行

KS C IEC 60747-5-2

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-2부: 광전소자 — 필수 정격 및 특성
分立半导体器件和集成电路 - 第5-2部分:光电子器件 - 基本等级和特性

2020-12-24

现行

GB/T 15651.2-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-2:Optoelectronic devices--Essential ratings and characteristics

2003-11-24

现行

DIN IEC 60747-2

Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes (IEC 60747-2:2000)
半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

2001-02-01

现行

KS C IEC 60747-5-1

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

2020-12-24

现行

KS C IEC 60747-5-3

개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법
分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法

2020-12-24

现行

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

2003-11-24

现行

KS C IEC 60748-2(2016 Confirm)

반도체 소자－집적 회로－제2부：디지털 집적 회로
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路

2001-12-11

现行

KS C IEC 60748-2(2021 Confirm)

반도체 소자－집적 회로－제2부：디지털 집적 회로
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路

2001-12-11

现行

IEC 60748-2-1997

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits
半导体器件 - 集成电路 - 第2部分:数字集成电路

1997-12-22

现行

GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2:Digital integrated circuits

1998-11-17

现行

GOST 29107-1991

Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
半导体器件 集成电路 数字集成电路