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标准号
发布时间
被代替
GB/T 6624-1995
硅抛光片表面质量目测检验方法
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Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
1995-04-18
CCS分类:
H21金属物理性能试验方法
ICS分类:
71.100化工产品
被代替
GB/T 6621-1995
硅抛光片表面平整度测试方法
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Test methods for surface flatness of silicon polished slices
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
1995-04-18
CCS分类:
H21金属物理性能试验方法
ICS分类:
29.045半导体材料
被代替
GB/T 14139-1993
硅外延片
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Silicon epitaxial wafers
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
1993-02-06
CCS分类:
H81半金属
ICS分类:
29.045半导体材料
被代替
YS/T 28-1992
硅片包装
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发布单位或类别:
行业标准-有色金属
发布日期:
1992-03-09
CCS分类:
H81半金属
ICS分类:
77.040金属材料试验
废止转行标
GB/T 7315.4-1987
五氧化二钒化学分析方法 共沉淀-萃取钼蓝分光光度法测定磷量
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Methods for chemical analysis of vanadium pentoxide—The co-precipitation-extraction molybdenum blue spectrophotometric method for the determination of phosphorus content
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
1987-02-27
CCS分类:
H11钢铁与铁合金分析方法
ICS分类:
71.060.20氧化物
被代替
GB/T 5246-1985
电解铜粉
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Electrolytic copper powder
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
1985-07-22
CCS分类:
H71金属与合金粉末
ICS分类:
77.120.30铜和铜合金
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询:
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刘老师 电话:010-58811368 邮箱:liuyzh@cnis.ac.cn
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