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正在审查
20204111-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-11-19
正在批准
20204116-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第2部分：薄膜材料拉伸试验方法
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part2: Tensile testing method of thin film materials
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-11-19
正在审查
20231752-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods—Part 9：Permanence of marking
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
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