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20201547-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2020-04-01
现行
GB/T 42706.5-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆
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Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 5：Die and wafer devices
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
正在审查
20233066-T-339
半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管
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发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
ICS分类：31.080.10二极管
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