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被代替
GB/T 12962-1996
硅单晶
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Monocrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1996-11-04
被代替
GB/T 4059-2007
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
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Polycrystalline silicon—Examination method—Zone-melting on phosphorus under controlled atmosphere
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2007-09-11
被代替
GB/T 12963-2009
硅多晶
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Specification for polycrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
被代替
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
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The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2006-07-18
现行
GB/T 26289-2010
高纯硒化学分析方法 硼、铝、铁、锌、砷、银、锡、锑、碲、汞、镁、钛、镍、铜、镓、镉、铟、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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Methods for chemical analysis of high purity selenium － Determination of boron,aluminum,iron,zinc,arsenic，silver, tin，antimony，tellurium，mercury， magnesium,titanium,nickel,copper,gallium,cadmium,indium,lead and bismuth contents － Inductively coupled plasma mass spectrometry
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2011-01-14
被代替
GB/T 4060-2007
硅多晶真空区熔基硼检验方法
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Polycrystalline silicon—Examination method—Vacuum zone-melting on boron
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2007-09-11
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