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  • 发布时间
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2023-07-28
ICS分类:39.020精密机械
现行
Silicon carbide epitaxial wafers
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
未生效
GB/T 24578-2024
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-07-24
正在征求意见
GaAs substrates for LED epitaxial chips
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2023-12-01
CCS分类: