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GB/T 24578-2024
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-07-24
现行
High purity alumina for sapphire single crystal
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-08-06
现行
Monocrystalline sapphire bar
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2022-12-30
现行
GB/T 34504-2017
蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2017-10-14
现行
T/CIET 138-2023
蓝宝石材料制造加工行业绿色工厂评价规范
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2023-06-28
CCS分类: