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现行
General analytical rules for the focused ion beam system
发布单位或类别:行业标准-教育
发布日期: 2020-09-29
ICS分类:03.180教育
正在审查
20231560-T-469
微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法
Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2023-12-01