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现行
YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
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Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors-Surface photovoltage method
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2018-10-22
现行
GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
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Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-12-28
现行
GB/T 1550-2018
非本征半导体材料导电类型测试方法
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Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-12-28
  • 关于国家数字标准馆
  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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