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发布单位或类别:标准化图书
发布日期:
CCS分类:
ICS分类:
现行
GB/T 43087-2023
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07
现行
GB/T 34002-2017
微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2017-07-12
现行
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28