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GB/T 21636-2008
微束分析　电子探针显微分析(EPMA)　术语
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Microbeam analysis—Electron probe microanalysis (EPMA)—Vocabulary
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2008-04-11
被代替
GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2006-12-25
被代替
GB/T 18907-2002
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
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Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2002-12-05
ICS分类：37.020光学设备
图书 a-4565
电子显微分析实用方法
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发布单位或类别：标准化图书
发布日期：
CCS分类：
ICS分类：
现行
GB/T 43883-2024
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-04-25
现行
GB/T 20724-2021
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-12-31
现行
GB/T 43087-2023
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-09-07
现行
GB/T 34002-2017
微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
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Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2017-07-12
现行
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 17722-1999
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
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Gold-plated thickness measurement by SEM
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1999-04-11
ICS分类：37.020光学设备
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