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起草人: 王元立
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GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
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Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 6616-2023
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
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Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 26070-2010
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
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Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2011-01-10
现行
GB/T 1555-2023
半导体单晶晶向测定方法
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Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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