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现行
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1992-12-17
CCS分类:L55微电路综合
现行
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1993-01-21
现行
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1992-12-17
CCS分类:L55微电路综合