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起草人: 王鸿高
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被代替
GB/T 12963-1996
硅多晶
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Polycrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1996-11-04
被代替
GB/T 12962-1996
硅单晶
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Monocrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1996-11-04
被代替
GB/T 1554-1995
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
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Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1995-04-18
被代替
GB/T 11073-1989
硅片径向电阻率变化的测量方法
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Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1989-03-31
被代替
GB/T 1555-1997
半导体单晶晶向测定方法
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Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 1997-12-22
现行
YB 1601-1983
硅多晶
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发布单位或类别：行业标准-黑色冶金
发布日期： 1983-08-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
YB 1602-1983
硅单晶
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发布单位或类别：行业标准-黑色冶金
发布日期： 1983-08-18
CCS分类：
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