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GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-09-07
CCS分类：L55微电路综合
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GB/T 43939-2024
宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法
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General test methods for servo circuits of quartz flexible accelerometers for space applications
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-04-25
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 41033-2021
CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
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Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-12-31
现行
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-09-07
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 41035-2021
航天用可扩展架构计算机电源测试方法
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Test method for aerospace ATX power supply
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-12-31
CCS分类：V25电子元器件
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