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ASTM E2175-01(2013)
Standard Practice for Specifying the Geometry of Multiangle Spectrophotometers
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指定多光谱分光光度计几何的标准实践
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2013-10-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM D5767-18
Standard Test Method for Instrumental Measurement of Distinctness-of-Image (DOI) Gloss of Coated Surfaces
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用于显示涂层表面特征(DOI)光泽度的仪器测量的标准测试方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2018-10-01
CCS分类:
ICS分类:
25.220.01表面处理和镀涂综合
现行
ASTM D5767-18(2023)
Standard Test Method for Instrumental Measurement of Distinctness-of-Image (DOI) Gloss of Coated Surfaces
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涂层表面图像清晰度(DOI)光泽的仪器测量的标准试验方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2023-11-01
CCS分类:
ICS分类:
25.220.01表面处理和镀涂综合
作废
ASTM E179-96(2003)
Standard Guide for Selection of Geometric Conditions for Measurement of Reflection and Transmission Properties of Materials (Withdrawn 2012)
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材料反射和透射特性测量几何条件选择的标准指南(2012年撤销)
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2003-01-10
CCS分类:
ICS分类:
17.180.20颜色和光的测量
作废
ASTM E312-06(2011)
Standard Practice for Description and Selection of Conditions for Photographing Specimens Using Analog (Film) Cameras and Digital Still Cameras (DSC) (Withdrawn 2017)
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使用模拟(电影)相机和数码相机(DSC)拍摄样本的条件描述和选择的标准实践
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2011-06-01
CCS分类:
ICS分类:
37.040.10摄影设备、投影仪
废止
ASTM E97-82(1987)
Method of Test for Directional Reflectance Factor, 45-Deg 0-Deg, of Opaque Specimens by Broad-Band Filter Reflectometry (Withdrawn 1991)
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用宽带滤光片反射计测定不透明试样45°0°方向反射系数的试验方法(1991年撤销)
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
CCS分类:
ICS分类:
71.040.50物理化学分析方法
作废
ASTM E429-78(1991)E01
Test Method for Measurement and Calculation of Reflecting Characteristics of Metallic Surfaces Using Integrating Sphere Instruments (Withdrawn 1996)
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用积分球仪器测量和计算金属表面反射特性的试验方法(1996年撤销)
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
1991-01-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
ASTM E2387-19
Standard Practice for Goniometric Optical Scatter Measurements
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测角光散射测量的标准实施规程
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2019-11-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
现行
ASTM E430-23
Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
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用节骨眼光度法测量高光泽表面光泽的标准试验方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2023-06-01
CCS分类:
ICS分类:
17.040.20表面特征
历史
ASTM E2175-01(2008)
Standard Practice for Specifying the Geometry of Multiangle Spectrophotometers
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指定多光谱分光光度计几何的标准实践
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2008-01-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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