现行

SJ/T 2658.1-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 1:General

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.2-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 2:Forward voltage

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.6-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 6:Radiant power

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.7-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 7:Radiant flux

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.4-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 4:Total capacitance

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.10-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 10:Modulation bandwidth

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.14-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 14:Junction temperature

2016-01-15

现行

SJ/T 2658.15-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 15:Thermal resistance

2016-01-15

现行

SJ/T 2658.8-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 8:Radiant intensity

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.5-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 5:Series connection resistance

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.13-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 13:Temperature coefficient for radiant power

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.3-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 3:Reverse voltage and reverse current

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.16-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第16部分：光电转换效率
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 16:Photo-electric conversion efficiency

2016-01-15

现行

SJ/T 2658.12-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 12:Peak-emission wavelength and spectral radiant bandwidth

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.9-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 9:Spatial distribution of radiant intensity and half-intensity angle

2015-10-10

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IEC 60747-5-11-2019

Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes
半导体器件第5-11部分:光电子器件发光二极管发光二极管辐射电流和非辐射电流的试验方法

2019-12-11