IEC 60747-18-1:2019-半导体器件第18-1部分:半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器校准的试验方法和数据分析-国家数字标准馆

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Semiconductor devices - Part 18-1: Semiconductor bio sensors - Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors 半导体器件第18-1部分:半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器校准的试验方法和数据分析

发布日期： 2019-05-20

                IEC 60747-18-1:2019（E）规定了无透镜CMOS光子阵列传感器校准的试验方法和数据分析。本文件包括每个工艺的测试条件、无透镜CMOS光子阵列传感器的配置、测试数据的统计分析、平面化和线性校准，以及测试报告。

IEC 60747-18-1:2019 (E) specifies the test methods and data analysis for the calibration of lens-free CMOS photonic array sensors. This document includes the test conditions of each process, configuration of lens-free CMOS photonic array sensors, statistical analysis of test data, calibration for planarization and linearity, and test reports.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.080.99半导体分立器件 - 其他半导体分立器件

关联关系

研制信息

归口单位： TC 47/SC 47E

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