ГОСТ 19656.14-79-半导体微波开关二极管临界频率测量方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 19656.14-79

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты 半导体微波开关二极管临界频率测量方法

实施日期： 1981-01-01

本标准适用于微波半导体二极管的开关，并设置临界频率的测量方法

Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管

ICS分类： 31.080.10半导体分立器件 - 二极管

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

GOST 19656.10-1988

Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
半导体微波开关和限幅二极管测量损耗电阻的方法

GOST 19656.16-1986

Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей
半导体微波限幅二极管分解和泄漏功率的测量方法

GOST 19656.9-1979

Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
半导体微波可变电抗器和倍增二极管测量时间常数和限制频率的方法

GOST 19834.5-1980

Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения
半导体发射红外二极管辐射脉冲切换时间测量方法

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统