首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 16153-80
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Германий монокристаллический. Технические условия 单晶锗 规格
实施日期: 1981-01-01
本标准适用于锗的单晶锭,用于生产半导体器件,并且建立了单晶锗的要求,为国家经济的需要制
Настоящий стандарт распространяется на монокристаллический слиток германия, применяемый для производства полупроводниковых приборов и устанавливает требования к монокристаллическому германию, изготовляемому для нужд народного хозяйства
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GB/T 5238-2009
Monocrystalline germanium and monocrystalline germanium slices
现行
GB/T 5238-2019
锗单晶和锗单晶片
Monocrystalline germanium and monocrystalline germanium slices
2019-06-04
现行
GOST 24392-1980
Кремний и германий монокристаллические. Измерение удельного электрического сопротивления четырехзондовым методом
单晶硅和锗 通过四探针法测量电阻率
现行
GOST 19658-1981
Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
锭中的单晶硅 规格
现行
GB/T 34481-2017
低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
2017-10-14
现行
SJ/T 11502-2015
碳化硅单晶抛光片规范
Specification for polished monocrystalline silicon carbide wafers
2015-04-30
现行
SJ 21444-2018
β-Ga203-N 型氧化镓单晶片规范
Specification for gallium oxide monocrystalline wafers of β-Ga203-N
2018-01-18
现行
SJ 21442-2018
GaN-SI 型半绝缘氮化镓单晶片规范
Specification for semi-insulating gallium nitride monocrystalline wafers of GaN-SI
2018-01-18
现行
BS 9300 C776-777-1971
Detail specification for germanium coaxial mixer diodes
锗同轴混频器二极管详细规范
1971-04-15
现行
JJF 1850-2020
锗γ射线谱仪校准规范
Calibration Specification for Germanium Gamma-ray Spectrometers
2020-07-02
现行
YS/T 1182-2016
锗单晶安全生产规范
Safe-production specification for germanium single crystal
2016-07-11
现行
SJ 21441-2018
SiC-HPSI 型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范
Specification for high purity semi-insulating silicon carbide monocrystalline wafers of SiC-HPSI
2018-01-18
现行
BS 9300 C778-1971
Detail specification for a matched pair of germanium coaxial mixer diodes
配对锗同轴混频器二极管详细规范
1971-04-15
现行
SJ 21445-2018
CdS-N 型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N used for infrared/ultraviolet two-color detector
2018-01-18
现行
SJ 21446-2018
CdS-N-T 型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N-T used for infrared/ultraviolet two-color detector
2018-01-18
现行
DIN 25702
Shieldings for detectors for nuclide-specific activity measurements - Standard-systems with germanium detectors
核素比活度测量用探测器屏蔽.带锗探测器的标准系统
1995-12-01