现行

MIL MIL-STD-883-5

ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR MICROCIRCUITS - PART 5: TEST METHODS 5000-5999
微电路的环境试验方法第5部分:试验方法5000-5999

2019-09-16

现行

MIL MIL-STD-883-4

ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR MICROCIRCUITS - PART 4: TEST METHODS 4000-4999
微电路的环境试验方法第4部分:试验方法4000-4999

2019-09-16

现行

MIL MIL-STD-883-3

ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR MICROCIRCUITS - PART 3: TEST METHODS 3000-3999
微电路的环境试验方法第3部分:试验方法3000-3999

2019-09-16

现行

GB/T 32065.10-2020

海洋仪器环境试验方法 第10部分：盐雾试验
Environmental test methods for oceanographic instruments—Part 10：Salt fog test

2020-11-19

现行

KS C IEC 62599-1

경보 시스템 — 제1부: 환경 시험방법
报警系统 - 第1部分:环境试验方法

2017-12-27

现行

IEC 62599-1-2010

Alarm systems - Part 1: Environmental test methods
报警系统 - 第1部分:环境试验方法

2010-05-19

现行

KS C IEC 62599-1(2022 Confirm)

경보 시스템 — 제1부: 환경 시험방법
报警系统.第1部分:环境试验方法

2017-12-27

现行

IEC 61747-10-1-2013

Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical
液晶显示设备 - 第10-1部分:环境 耐久性和机械测试方法 - 机械

2013-07-10

现行

GB/T 18910.101-2021

液晶显示器件 第10-1部分：环境、耐久性和机械试验方法 机械
Liquid crystal display devices—Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods—Mechanical

2021-10-11

现行

BS 11/30252972 DC

BS EN 61747-10-1. Liquid crystal display devices. Part 10-1. Environmental, endurance and mechanical test methods. Mechanical
英国标准EN 61747-10-1 液晶显示设备 第10-1部分 环境、耐久性和机械试验方法 机动的

2011-09-06

现行

GB/T 20643.1-2006

特殊环境条件 环境试验方法 第1部分：总则
Special environmental condition - Environmental test method - Part 1: General and guidance

2006-11-08

现行

UNE-EN 50289-1-10-2002

Communication cables - Specifications for test methods -- Part 1-10: Electrical test methods - Crosstalk.
通信电缆.试验方法规范.第1-10部分:电气试验方法.串扰

2002-06-28

现行

MIL MIL-STD-750-1A Change 2

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2016-08-12

现行

MIL MIL-STD-750-1A Change 1

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2016-05-13

现行

MIL MIL-STD-750-1 Change 3(all previous changes incorporated)

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2013-10-01

现行

MIL MIL-STD-750-1 Change 2(all previous changes incorporated)

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2013-07-01

现行

MIL MIL-STD-750-1 Change 1(change incorporated)

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2013-03-11

现行

MIL MIL-STD-750-1A Change 3

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件的环境测试方法第1部分:测试方法1000至1999年

2015-12-11

现行

MIL MIL-STD-750-1 Change 5(all previous changes incorporated)

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2015-04-24

现行

MIL MIL-STD-750-1 Change 4(all previous changes incorporated)

Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000～1999

2014-08-22