现行

GOST 23089.2-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器最大输出电压的方法

现行

GOST 23089.1-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器增益的方法

现行

GOST 23089.6-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输出电压稳定时间的方法

现行

GOST 23089.3-1983

Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э. д. с. cмещения нуля операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器零偏移电压和电动势的方法

现行

GB/T 3436-1996

半导体集成电路 运算放大器系列和品种
Semiconductor integrated circuits--Series and products of operational amplifier

1996-07-09

现行

GOST 23089.10-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输出电压最大累积速率和时间的方法

现行

GOST 23089.8-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э. д. с смещения нуля операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器平均温度电压漂移和零点偏移的方法

现行

GOST 23089.9-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输入偏置电流温度漂移和输入电流的方法

现行

GOST 23089.0-1978

Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器电气参数的一般要求

现行

GOST 23089.7-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э. д. с смещения нуля операционных усилителей
集成电路 测量电源不稳定性的方法对运算放大器零漂电压和电动势的影响

现行

GOST 23089.11-1983

Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器输入共模电压抑制比的方法

现行

GOST 23089.16-1990

Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器相位稳定裕度的方法

现行

GOST 23089.17-1990

Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器输入和输出电阻的方法

现行

GOST 23089.15-1990

Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器全功率频率的方法

现行

GB/T 14115-1993

半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

1993-01-21

现行

SJ 20645-1997

微波电路放大器测试方法
Microwave circuits Measuring methods for amplifiers

1997-06-17

现行

GOST 27694-1988

Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
集成电路 低 中 高频放大器 电参数测量方法

现行

GOST 28814-1990

Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法

现行

KS C IEC 60748-3-1(2017 Confirm)

반도체 소자－집적 회로－제3-1부：아날로그 집적 회로－OP 앰프
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路第1节:单片集成运算放大器空白详细规范

2002-11-30

现行

IEC 60748-3-1-1991

Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits - Section one: Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
半导体器件 集成电路 - 第3部分:模拟集成电路 - 第一部分:单片集成运算放大器的空白详细规范

1991-08-02