首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 28814-90
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения 集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法
实施日期: 1992-07-01
本标准适用于开关电压调节器控制电路(SU SRI),并设置用于测量电参数SU SRI的方法的要求:的开关电流脉冲的开关电流脉冲的衰减时间的上升时间
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 18683.1-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров
数字集成电路 测量静电参数的方法
现行
GOST 19799-1974
Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
模拟集成电路 电参数测量和响应测定方法
现行
GOST 18683.0-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров
数字集成电路 测量电气参数的一般要求
现行
GOST 27694-1988
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
集成电路 低 中 高频放大器 电参数测量方法
现行
GOST 30350-1996
Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
模拟集成电路 对电气参数测量的仪器和条件的一般要求
1996-10-04
现行
GOST 23089.0-1978
Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器电气参数的一般要求
现行
GOST 18683.2-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров
数码综合电脑测量动态电气参数的方法
现行
GOST 27780-1988
Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
集成循环多路复用器和交换机 电参数测量方法
现行
GOST 26949-1986
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
集成微电路 连续稳压器电参数测量方法
现行
JEDEC JESD51-1
INTEGRATED CIRCUIT THERMAL MEASUREMENT METHOD - ELECTRICAL TEST METHOD (SINGLE SEMICONDUCTOR DEVICE)
集成电路热测量方法电气试验方法(单半导体器件)
1995-12-01
现行
JEDEC JESD51-1
INTEGRATED CIRCUIT THERMAL MEASUREMENT METHOD - ELECTRICAL TEST METHOD (SINGLE SEMICONDUCTOR DEVICE)
集成电路热测量方法电气试验方法(单半导体器件)
1995-12-01