首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 26949-86
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения 集成微电路 连续稳压器电参数测量方法
实施日期: 1988-01-01
本标准适用于连续的电压调节器,并建立测量电参数的方法:  不稳定电压;  不稳定电流;  纹波平滑系数;  热应力因子;  输出电压的漂移
Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров: нестабильности по напряжению; нестабильности по току; коэффициента сглаживания пульсаций; температурного коэффициента напряжения; дрейфа выходного напряжения
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 24613.0-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
光电集成微电路和光耦 电气参数测量的一般要求
现行
GOST 27780-1988
Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
集成循环多路复用器和交换机 电参数测量方法
现行
GOST 18683.2-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров
数码综合电脑测量动态电气参数的方法
现行
GOST 18683.1-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров
数字集成电路 测量静电参数的方法
现行
GOST 19799-1974
Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
模拟集成电路 电参数测量和响应测定方法
现行
GOST 18683.0-1983
Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров
数字集成电路 测量电气参数的一般要求
现行
GOST 28814-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法
现行
GOST 27694-1988
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
集成电路 低 中 高频放大器 电参数测量方法
现行
GOST 23089.12-1986
Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
隔间微电路运算放大器噪声参数测量方法
现行
GOST 19138.6-1986
Тиристоры. Методы измерения электрических параметров
晶闸管电气参数测量方法
现行
GOST 24613.18-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 测量隔离电阻的方法
现行
GOST 24613.6-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 隔离电压测量方法
现行
GOST 24613.9-1983
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
光电集成微电路和光电耦合器 测量切换时间的方法
现行
GOST 30350-1996
Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
模拟集成电路 对电气参数测量的仪器和条件的一般要求
1996-10-04
现行
GOST 11612.0-1981
Фотоумножители. Общие требования при измерении электрических и светотехнических параметров
光电倍增管电力和轻工业参数的测量方法
现行
GOST 23089.17-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器输入和输出电阻的方法
现行
GOST 24613.19-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
光电集成微电路和光电耦合器 电流传输比测量方法
现行
GOST 23089.16-1990
Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器相位稳定裕度的方法
现行
GOST 24613.2-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
光电集成微电路和光耦 测量电流的方法
现行
GOST 23089.15-1990
Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器全功率频率的方法