首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 24613.9-83
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров 光电集成微电路和光电耦合器 测量切换时间的方法
实施日期: 1984-07-01
关断时的导通时间,关断时间,下降时间,上升时间,延迟时间,节省时间,过渡时间接通时,过渡时间,时间:该标准适用于optoelekronnye集成电路和光电耦合器和设置定时的测量方法在关断导通时,信号传播延迟时间的传播延迟,接通延迟,关断时间延迟。    标准并不适用于模拟开关和负载和晶闸管光耦合器
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения. Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 24613.18-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 测量隔离电阻的方法
现行
GOST 24613.6-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 隔离电压测量方法
现行
GOST 24613.19-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
光电集成微电路和光电耦合器 电流传输比测量方法
现行
GOST 24613.1-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
光电集成微电路和光电耦合器 输入到输出电容的测量方法
现行
GOST 24613.8-1983
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
光电集成微电路和光耦 介电电压临界变化率测量方法
现行
GOST 24613.2-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
光电集成微电路和光耦 测量电流的方法
现行
GOST 24613.3-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
光电集成微电路和光耦 测量输入电压的方法
现行
GOST 24613.13-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
光电集成微电路 测量逻辑信号开关短路的方法
现行
GOST 24613.16-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
光电集成微电路 测量模拟信号换向器初始残余电压的方法
现行
GOST 24613.17-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
光电集成微电路 测量模拟信号换向器输出差分电阻的方法
现行
GOST 24613.5-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
光电集成微电路 模拟信号和负载换向器的零重新电压测量方法
现行
GOST 24613.15-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量开关量消耗的方法及其逻辑信号开关的持续时间
现行
GOST 24613.11-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输入电压的方法
现行
GOST 24613.14-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的消耗电流的方法
现行
GOST 24613.12-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输出电压的方法
现行
GOST 24613.10-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的噪声电流和噪声电压的方法