Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 隔离电压测量方法
实施日期:
1982-07-01
本标准适用于光电集成电路和光耦合器,并设置测量绝缘电压的方法(DC或脉冲)
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного)