现行

GOST 24613.15-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量开关量消耗的方法及其逻辑信号开关的持续时间

现行

GOST 24613.18-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 测量隔离电阻的方法

现行

GOST 24613.9-1983

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
光电集成微电路和光电耦合器 测量切换时间的方法

现行

GOST 24613.6-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
光电集成微电路和光电耦合器 隔离电压测量方法

现行

GOST 24613.19-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
光电集成微电路和光电耦合器 电流传输比测量方法

现行

GOST 24613.2-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
光电集成微电路和光耦 测量电流的方法

现行

GOST 24613.3-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
光电集成微电路和光耦 测量输入电压的方法

现行

GOST 24613.1-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
光电集成微电路和光电耦合器 输入到输出电容的测量方法

现行

GOST 24613.13-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
光电集成微电路 测量逻辑信号开关短路的方法

现行

GOST 24613.16-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
光电集成微电路 测量模拟信号换向器初始残余电压的方法

现行

GOST 24613.17-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
光电集成微电路 测量模拟信号换向器输出差分电阻的方法

现行

GOST 24613.8-1983

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
光电集成微电路和光耦 介电电压临界变化率测量方法

现行

GOST 24613.5-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
光电集成微电路 模拟信号和负载换向器的零重新电压测量方法

现行

GOST 24613.0-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
光电集成微电路和光耦 电气参数测量的一般要求

现行

GOST 24613.11-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输入电压的方法

现行

GOST 24613.12-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输出电压的方法

现行

GOST 24613.10-1977

Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的噪声电流和噪声电压的方法

现行

KS C IEC 60747-5-3

개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법
分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法

2020-12-24

现行

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

2003-11-24

现行

GOST 23089.16-1990

Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器相位稳定裕度的方法