本标准适用于光电集成电路和光耦合器，包括交换机的逻辑信号，并且将测量的电压绝缘的变化的临界速度的两种方法:直接和间接。   使用间接方法时，有从输入输出芯片，待测单元的一部分

Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора